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更好的清晰度
高达670万像素的图【tú】像分辨率提供令人满意的亮度、对比度【dù】、空间【jiān】分辨【biàn】率、景深以及灰度，向您呈现更【gèng】清晰的图像，并【bìng】进一【yī】步简化【huà】您的分【fèn】析。
更快速的检测
高达30帧/秒的增强版实时检【jiǎn】测技【jì】术可实现实时图【tú】像【xiàng】处理【lǐ】，快速提【tí】供最【zuì】佳图片以【yǐ】最大化处理量。
保持图像锐度
QuadraNT™ X射线管提供的高分辨率图像在【zài】高倍放大下仍能【néng】保持无与【yǔ】伦比【bǐ】的【de】清晰度【dù】QuadraNT™为您提供锐利清晰【xī】的图像，特征分辨【biàn】率为0.1微米时，目标功率达10瓦【wǎ】，或特征分辨率为【wéi】0.3微【wēi】米时【shí】，目标功率【lǜ】达20瓦【wǎ】。
易于使用
机壳的设计【jì】符合人体工程学，可【kě】优化【huà】用户与系【xì】统交互的方式【shì】操作人员可迅速【sù】启动和运行【háng】可直观【guān】操作【zuò】的Gensys™检测【cè】软件。
独特的集成技术
Explorer™ one 在图像链【liàn】的【de】每个步骤都具有专有技术，从生成【chéng】和检【jiǎn】测X射线到图像增强和测量。每【měi】个组【zǔ】件都【dōu】有一个【gè】目的：为【wéi】电子检测创建最高质量的图像。
Quadra® X射线管技术
高【gāo】质【zhì】量的图像从X射【shè】线源开始。Explorer one使【shǐ】用QuadraNT®X射【shè】线管技术（也适用于我们的Quadra系列X 射【shè】线检测【cè】工【gōng】具【jù】）在每个功率【lǜ】级提供市场【chǎng】领先的图像质量，而无需维护。
专门设计用于电子器件的检测
能查看小至【zhì】2μm的产【chǎn】品特性，这种【zhǒng】高【gāo】清细节的检测【cè】功能与只【zhī】是 检测键合是否存在有着很【hěn】大的区别【bié】。专为Explorer one 开发的AspireFP® one平板探【tàn】测器经过优【yōu】 化，能【néng】在电子样品中实【shí】现最高【gāo】对比度。
显示最精细的细节
超过30种【zhǒng】先进【jìn】的过滤【lǜ】器可以显示最清晰的【de】图像并展示最精【jīng】细的细节，让您更快地找【zhǎo】到【dào】特征和缺陷。
一直朝上
绝对不会看错方【fāng】向。无论您从哪个侧面观察，Explorer one 独特的双轴倾【qīng】斜观察【chá】功【gōng】能均【jun1】可使电路板朝上，样品肯【kěn】定不【bú】会旋转。
Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。
内置尺【chǐ】寸测量工具、BGA空【kōng】洞分析、凸点直径【jìng】和圆度以【yǐ】及通孔填充，可【kě】快速查【chá】找并表征缺陷【xiàn】，帮【bāng】助您达到IPC-A-610和IPC-7095合规标【biāo】准。
0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。
诺信DAGE双倾斜角探测器的独【dú】特几何结构【gòu】是【shì】检测缺【quē】陷的【de】最快路径【jìng】，而这些缺陷【xiàn】仅在特定视【shì】角下才能看见。
第四代开放管技术非常适合以微米级解析度检测电子样品。
Gensys软件专为电子检测而开发，将全【quán】面【miàn】的测量工【gōng】具【jù】和自动化整合到【dào】一个可以快速【sù】学会【huì】的直观【guān】点击式平台中，因此【cǐ】您可以更快地获【huò】得【dé】最大的生产力。
QuadraGEN专为Quadra®系列高【gāo】解析度X射线【xiàn】检【jiǎn】测系统而设计【jì】，可提供高质量X射【shè】线图像所需的功【gōng】率和稳定【dìng】性。
高速AXI系统用于在线检测
微焦斑X射线灯管(闭管/免维护)
带线性马达驱动的多轴可编程运动系统
数字CMOS平板探测器
自动灰阶和几何校准
条形码扫描枪可用于读取序列号和检测程序切换
支持多种工业4.0标准的MES接口，实现全检测流程可追溯
符合IPC-CFX标准
灵活的AXI系统，可用于在线或离线自动化检测
微焦斑X射线灯管（闭管/免维护）
多轴可编程伺服马达传动系统
数字CMOS平板探测器
自动灰阶几何及校验
灵活配置：可提供在线Pass through模【mó】式或同【tóng】侧【cè】进出板配置
配置条码扫描枪后可进行条码读取及机种选择
客制化的MES平台提供了完整的追踪系统接口